Thermal Emission Microscope（红外热发射显微镜）又叫Thermal EMMI（红外热点显微镜），红外热发射显微镜通过给待测样品提供电流激励产并检测失效点产生的微弱信号，从而确定不良失效位置。

Thermal Emission Microscope（红外热发射显微镜）可以检测出PCB电路板/FPC柔性板/PCBA集成电路板/IC芯片/元器件等各种电子产品的短路、漏电缺陷，Thermal Emission Microscope属于无损分析，是失效分析中十分有效且可靠的分析工具。

Gezofane的Thermal Emission Microscope（红外热发射显微镜）采用高频红外相机，具备极其灵敏的红外热点检测能力。

Thermal EMMI失效分析案例：